<rt id="qpnz1"></rt>

電鏡能譜一體機

簡要描述：Phenom ProX 是第五代電鏡能譜一體機，是*的集成化成像分析系統，分辨率提升 20%，進一步增加應用范圍，更加適用于對電子束敏感的樣品。借助該系統，既可觀察樣品的表面形貌，又可分析其元素組分。

產品型號：Phenom ProX
廠商性質：代理商
更新時間：2017-12-20
訪問量： 4036

產品咨詢聯系我們

產品分類

Product Category

詳細介紹

Phenom ProX是第五代電鏡能譜一體機，是*的集成化成像分析系統，分辨率提升 20%，進一步增加應用范圍，更加適用于對電子束敏感的樣品。借助該系統，既可觀察樣品的表面形貌，又可分析其元素組分。研究樣品時，得到樣品的形貌信息只是解決了一半問題。獲得樣品的元素組分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊設計的能譜探測器，飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 可以完善解決上述所有問題。能譜儀是一種基于樣品被電子束激發而產生 X 射線的分析儀器。Phenom 的能譜儀無論軟件、硬件都是*集成設計在飛納 Phenom ProX 系統中。Element Identification (EID) 軟件可以使用戶實現多點分析，檢測樣品的元素組分。此外，該軟件還可以擴展到元素分析線面掃（mapping）功能。分步操作界面可以幫助用戶更方便地收集、導出分析數據。

	Phenom Pro	Phenom ProX	Phenom XL
光學放大	20 - 135 X	20 - 135 X	3 - 16 X
電子光學放大	80 - 150,000 X	80 - 150,000 X	80 - 100,000 X
分辨率	優于 8 nm	優于 8 nm	優于 14 nm
數字放大	Max. 12 X	Max. 12 X	Max. 12 X
光學導航相機	彩色	彩色	彩色
加速電壓	5 Kv - 15 Kv 連續可調	5 Kv - 15 Kv 連續可調	5 Kv - 20 Kv 連續可調
真空模式	高分辨率模式	高分辨率模式	高分辨率模式
	降低荷電效應模式	降低荷電效應模式	降低荷電效應模式
			高真空模式
探測器	背散射電子探測器	背散射電子探測器	背散射電子探測器
探測器	二次電子探測器 (選配)	二次電子探測器 (選配)	二次電子探測器 (選配)
樣品尺寸	大直徑 32 mm (Ø)	大直徑 32 mm (Ø)	大 100 mm X 100 mm
樣品尺寸	大直徑 32 mm (Ø)	大直徑 32 mm (Ø)	可同時裝載 36 個 0.5 英寸樣品臺
樣品高度	高 100 mm	高 100 mm	高 65 mm

產品咨詢

留言框

產品：
您的單位：
您的姓名：
聯系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結果（填寫阿拉伯數字），如：三加四=7

上一篇：Phenom XL大樣品室版電子顯微鏡
下一篇：Phenom Pro高分辨率專業版電子顯微鏡

日本做受高潮好舒服视频-青青国产线免观-日本人妻巨大乳挤奶水-亚洲精品无码成人a片蜜臀-国产精品无码专区久久久

電鏡能譜一體機

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：