簡要描述：GD90-RF射頻輝光放電質譜儀是一個專為高精度元素分析所設計的高分辨輝光放電質譜儀。此輝光放電質譜儀（GDMS）提供了固體金屬與緣體的直接分析檢測。它具有非常寬的元素覆蓋范圍，可得到超過70種元素的有效數據，靈敏度高，輕元素重元素均可。
產品型號：廠商性質：代理商更新時間：2019-09-11訪 問 量： 7312詳細介紹
GD90-RF射頻輝光放電質譜儀
GDMS技術使原子化（碎片化）過程與離子化過程分開進行，故而可容易的對ppb至ppt級別的痕量雜質進行測量。此法還使得GDMS技術擁有小的基體效應且無須特定參照材料。它可對金屬與合金進行全掃描分析，可對半導體進行整體的測量分析，可對多層結構與鍍層進行深度剖析。是包括金屬、合金、半導體以及緣體等高純材料的生產與質量控制的理想工具。
GD90-RF射頻輝光放電質譜儀主要由三部分構成：輝光放電離子源、質量分析器、檢測器。另外還包括一些輔助系統(tǒng)，如真空系統(tǒng)、離子光學系統(tǒng)、電學系統(tǒng)和數據采集控制系統(tǒng)等。而GD90-RF射頻輝光放電質譜儀具有靈活的雙離子源系統(tǒng)：直流源（DC）和射頻源（RF）。GD90-RF離子源包含直流源和射頻源，切換簡單方便，可以直接分析不同尺寸的塊狀、針狀及粉末樣品。高電離閾值材料離子源室，有效避免電離時帶來的污染。
GD90-RF射頻輝光放電質譜儀的主要特性：
1、對塊狀、針狀或粉末狀的導體或非導體樣品進行直接分析；
2、高分辨率，特別是對于有干擾離子存在的測定而言十分重要；
3、廣泛的元素涵蓋范圍，軟件中包括70個元素相關的干擾離子數據；
4、由于原子化和離子化過程發(fā)生在不同區(qū)域，帶來可忽略的基體效應；
5、低至亞ppb級的檢測限；
6、具有深度剖析能力；
7、少的樣品制備過程。
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